各位電源界專家，各位前輩，各位老師，各位版主，各位大神，各位大俠，各位大牛：

掃地僧向你們致敬了！

看來大家都已經習慣于寧愿將時間花費在看手機做低頭一族上，也罷，直奔主題說焦點——

交流電源一次側的X電容與和它并聯的放電電阻的時間常數乘積，這個放電時間按目前的普遍使用參數計算，100%都會引起激蕩而出現高壓尖峰沖擊，這是電源電路以及整個電路系統各種并發癥的主要誘因。

牽涉到EMI濾波器和壓敏電阻方面的分析和辯論，大家可以保留自己的習慣性理解。但請記住：將放電時間控制在時間常數公式限定的范圍內，是消除安全隱患，提升電源品質與可靠性的唯一辦法?；驹砭驮谀抢?，你愿意看見，或者堅持無視，都永遠在那里。

當然，懶得，或者不屑于經過實驗去驗證高阻值電阻會引發激蕩尖峰電壓的攻城獅們，可以繼續認為目前的品質和這個標準沒有任何關系的，無視這個基本的電子學原理，繼續維持現狀的結果是什么，就不多做討論了，在附件文檔里都有敘述。

追本溯源說安全，

燈下已黑一百年，

多少專家頻問計，

不在天邊在眼前。

重要的事至少得說三遍：1、實驗！驗證！2實驗！驗證！3實驗！驗證！

以下感慨還是保留給有余暇的朋友們

愛因斯坦的警世名言說過:"宇宙中唯有兩件事物是無限的：宇宙的大小與人的愚蠢，我不能確定的是宇宙的大小?！?

掃地僧進而認為：“人類真正的愚蠢，往往并不在于明顯的智商余額不足，而在于高智商的人們常常挾帶著智商優越感想當然的認為:任何智商正常的人,尤其象(IEC)以及( IEEE)中那些嚴謹、頂級的高智商專家,更決不會犯下原理極其簡單的低級錯誤?！?

在下一介掃地和尚，也許是眼尖，也許只是多看了一眼，也許只是多想了一會，順著這個標準的缺陷向下挖，就看到了這個我認為是裝下了整個電子行業的天坑——上帝之坑。

由于在下終究才疏學淺，肯定難免存在疏漏和不足。所以懇請各位閱讀完附件文檔之后，無論是否已經相信我在附件文檔中描述的內容，都務必親自做完那個驗證實驗，再來一起討論這個大坑是不是上帝之坑，以及這個時間常數公式是不是一座不可或缺的保障基石，都請在此發表意見和感受吧。

掃地僧以為，當你不明確知道這個缺陷之前，尚可以心安理得，當你知道了，就再也無法忽視它——象一道拿不掉的必須存在的門檻。

所以，雁過留聲，人過留名，路過，不應留遺憾，請留爪痕！

希望大家正在參與、見證和經歷的，是一段值得回憶的意義非同尋常的歷史。

謝謝大家！??！

解剖國際電工委員會（IEC）的錯誤安規標準.pdf

結束滿世界燈下黑的狀態。

沒有人在意，是因為大家都在坑里嗎？

如果認為燈下黑的缺陷無關緊要，會繼續付出代價的。

點贊你的精神，順便說一下，那個電容不足以造成功率因數大變化，而且不是電壓反向綜合掉電容的電核而造成功耗增加，要動態看電容。

減少電阻造成額外功耗，你測的電壓600v還是400v是掉電速度的事，峰值與電阻無關，持續時間倒是和電阻成正比例，不信用高阻示波器探頭看看。